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摘要:
铜基压合PCB工艺的应用解决了射频功放模块的批量一致性问题,但同时也带来了器件接地的新问题.接地不良的直接后果是器件在使用中达不到标称性能,工作不稳定.文章在对比了传统工艺和新工艺的区别后从理论上分析了新工艺接地问题产生的原因,并提出了简单可行的解决办法,从而使得该工艺能成功地运用在射频功放模块的生产实践中.
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文献信息
篇名 铜基压合PCB中的接地问题及解决办法
来源期刊 光通信研究 学科 工学
关键词 铜基压合PCB 射频功放 接地 仿真
年,卷(期) 2009,(3) 所属期刊栏目 无线光通信
研究方向 页码范围 68-70
页数 3页 分类号 TN722
字数 2234字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-8788.2009.03.023
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 余晓华 光纤通信技术和网络国家重点实验室武汉邮电科学研究院 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
铜基压合PCB
射频功放
接地
仿真
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光通信研究
双月刊
1005-8788
42-1266/TN
大16开
武汉市洪山区邮科院路88号
1975
chi
出版文献量(篇)
2524
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3
总被引数(次)
10254
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