外延BiFeO3薄膜的温度特性

• 作者: 刘宝亭 梁伟华 王兴远 王英龙 郝晓辉
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 物理学
• 关键词: 无机非金属材料 铁电薄膜 理论模拟 极化强度 磁化强度 BiFeO3
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 62-65
• 页数: 4页
• 分类号: O484
• 字数: 2959字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2009.08.018

摘要

基于Landau-Devonshire 唯象理论,采用等效衬底晶格常数的方法,并拟合了磁刚度系数的温度函数,对多铁性外延BiFeO3薄膜的铁电性和磁性进行了研究.结果表明,70 nm厚薄膜的磁化强度在10 ～731 ℃先增加后减小,在371 ℃时有最大值64 569 A/m,随膜厚的增加磁化强度的极值减小;自发极化、c轴晶格常数随膜厚的增加而减小,同一厚度薄膜随温度的升高自发极化强度减小;压电常数、相对介电常数随温度升高而增大,随膜厚增加而增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁伟华	河北大学物理科学与技术学院	36	92	6.0	8.0
2	王英龙	河北大学物理科学与技术学院	96	301	9.0	12.0
3	郝晓辉	河北大学物理科学与技术学院	6	24	3.0	4.0
4	王兴远	河北大学物理科学与技术学院	4	1	1.0	1.0
5	刘宝亭	河北大学物理科学与技术学院	1	1	1.0	1.0