中子衍射残余应力无损测量技术及应用

• 作者: 刘蕴韬 李峻宏 李际周 陈东风 高建波
• 来源期刊: 中国材料进展
• 学科: 物理学
• 关键词: 中子衍射 残余应力 残余应变
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 中子散射在材料科技中的应用专栏
• 页码范围: 10-14
• 页数: 5页
• 分类号: O571.56
• 字数: 3956字
• 语种: 中文

摘要

中子衍射作为一门实验技术,在描述材料内部残余应力方面有巨大的潜力,是允许工程师或材料科学家进行三维、无损、深度地获取材料内部残余应力分布状态的少数技术之一.回顾了中子衍射测量残余应力的发展历史,概述了中子衍射残余应力分析方法的基本原理与特点,并简单介绍了其在材料科学和工程应用领域的应用情况.最后根据国际国内中子源及中子谱仪的发展趋势,展望了此技术的应用领域与未来前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李际周	中国原子能科学研究院核物理研究所中子散射实验室	11	50	3.0	7.0
2	李峻宏	中国原子能科学研究院核物理研究所中子散射实验室	16	38	3.0	6.0
3	陈东风	中国原子能科学研究院核物理研究所中子散射实验室	83	193	7.0	11.0
4	刘蕴韬	中国原子能科学研究院核物理研究所中子散射实验室	56	160	6.0	11.0
5	高建波	中国原子能科学研究院核物理研究所中子散射实验室	12	24	2.0	4.0