晶粒尺寸和片层厚度对全片层γ-TiAl基合金屈服强度的影响

• 作者: 林高飞 苏继龙 郑书河
• 来源期刊: 航空材料学报
• 关键词: γ-TiAl基合金 屈服强度 位错 片层厚度 晶粒尺寸
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TH142.2|TG146
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5053.2009.04.001

摘要

基于多位错塞积理论,建立了全片层γ-TiAl基合金屈服强度尺度效应的解析预测细观力学模型,得到了全片层γ-TiAl基合金屈服强度的计算公式并详细分析了晶粒尺寸d和片层厚度λ对屈服强度的影响关系,数值预测结果趋势与已有的试验结果相吻合.主要结论是:γ-TiAl基合金屈服强度对晶粒大小d变化不敏感,而对片层厚度λ具有强烈的依赖关系,随着片层厚度的减小,屈服强度明显增大,表现出显著的尺度效应;屈服强度与片层厚度之间的制约关系在一定的片层尺度范围内符合Hall-Petch关系.值得注意的是,当片层尺寸λ细化至90nm时,γ-TiAl基合金材料的屈服强度达到一极限饱和值,这一极限饱和值约为1000MPa.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏继龙	福建农林大学机电工程学院	42	90	4.0	7.0
2	郑书河	福建农林大学机电工程学院	39	117	6.0	9.0
3	林高飞	福建农林大学机电工程学院	4	22	3.0	4.0