基于性能老化量分布的单基发射药使用可靠性模型

• 作者: 周志强 张文明 张玉令 罗兴柏 苟勇强
• 来源期刊: 火炸药学报
• 关键词: 材料科学 单基发射药 贮存寿命 老化 可靠性
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 79-82
• 页数: 4页
• 分类号: TJ55|O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7812.2009.05.021

摘要

通过对某型超期贮存弹药的单基发射药进行静态抗压强度试验,得到不同贮存年限发射药的抗压强度.利用可靠性理论和方法,对试验结果进行统计分析,得出超期贮存单基发射药的抗压强度随时间的变化规律.建立了基于性能老化量分布规律的发射药使用可靠性计算模型,对7/14单基发射药使用可靠性进行了预估.结果表明,随着贮存时间的增加,发射药的使用可靠性显著降低;在不同的压力波条件下,发射药的安全使用寿命相差较大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗兴柏	军械工程学院弹药工程系	57	201	6.0	11.0
2	张玉令	军械工程学院弹药工程系	20	73	5.0	7.0
3	周志强		5	19	2.0	4.0