原文服务方: 绝缘材料       
摘要:
针对电力系统绝缘子污秽闪络产生的危害问题,采用升压法对涂污秽物的单片瓷绝缘子(XP-210)进行人工污秽试验,分析了不同盐密(NaCl)、灰密(硅藻土)对单片瓷绝缘子闪络电压的影响.结果表明:盐密、灰密对单片瓷绝缘子人工污秽闪络电压都有影响,闪络电压与盐密、灰密均成幂函数关系,并且二者对闪络电压的影响是独立的.据此提出了划分电网污秽等级的建议.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 不同盐密灰密对瓷绝缘子污秽闪络特性影响的研究
来源期刊 绝缘材料 学科
关键词 瓷绝缘子 盐密 灰密 人工污秽试验 污秽闪络
年,卷(期) 2009,(6) 所属期刊栏目 性能研究
研究方向 页码范围 58-60
页数 3页 分类号 TM216.3|TM201.46
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-9239.2009.06.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李军 16 193 8.0 13.0
2 张仲秋 12 47 4.0 6.0
3 吴童生 5 92 4.0 5.0
4 周瑜 12 79 6.0 8.0
5 李志玮 3 35 2.0 3.0
传播情况
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二级参考文献  (8)
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研究主题发展历程
节点文献
瓷绝缘子
盐密
灰密
人工污秽试验
污秽闪络
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
绝缘材料
月刊
1009-9239
45-1287/TM
大16开
1966-01-01
chi
出版文献量(篇)
2892
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19598
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