花键轴断裂失效分析

• 作者: 万方 刘德林 胡春燕 陶春虎
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 花键轴 疲劳断裂 魏氏组织
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 测试与表征
• 页码范围: 57-59,64
• 页数: 4页
• 分类号: TG142.33
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2009.05.014

摘要

对断裂的花键轴进行了断口宏微观观察、化学成分分析、金相组织检查、硬度检测及静态拉伸测试.结果表明:花键轴的断裂性质为疲劳断裂;花键轴的显微组织中存在魏氏组织,导致其硬度和强度低于技术要求,是造成花键轴断裂的根本原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陶春虎		118	1251	18.0	27.0
2	胡春燕		14	80	6.0	8.0
3	刘德林		33	167	7.0	10.0
4	万方		13	30	3.0	5.0