基于AT89C51的集成芯片测试仪设计

• 作者: 李梁杰 李锐 程安宇 陈宇 黄哲
• 来源期刊: 数字通信
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 真值表 集成芯片 测试仪
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 90-92
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.1

摘要

本系统以AT89C51为核心，由键盘、LCD1602显示、电源控制模块等组成，根据数字系统测试与可测性的原理以及集成芯片的真值表推导出测试程序，能完成对TTL74，54系列和CMOS4000，4500系列数字集成芯片的功能测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李锐	重庆邮电大学网络化控制与智能仪器仪表教育部重点实验室	72	529	11.0	20.0
2	陈宇	重庆邮电大学网络化控制与智能仪器仪表教育部重点实验室	11	77	4.0	8.0
3	黄哲	重庆邮电大学网络化控制与智能仪器仪表教育部重点实验室	4	58	2.0	4.0
4	李梁杰	重庆邮电大学网络化控制与智能仪器仪表教育部重点实验室	2	4	1.0	2.0
5	程安宇	重庆邮电大学网络化控制与智能仪器仪表教育部重点实验室	29	183	8.0	11.0