航天继电器贮存寿命试验及失效分析

• 作者: 孟凡斌 李文华 王立忠 陆俭国 骆燕燕
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 加速寿命试验 电磁继电器 贮存寿命 失效分析
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 电机与电器
• 页码范围: 54-59
• 页数: 6页
• 分类号: TM561
• 字数: 4784字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2009.02.009

摘要

讨论了航天用电磁继电器贮存可靠性的研究方法,分析了贮存条件下航天电磁继电器的失效机理.根据研究制定的试验方案对产品进行了恒定温度应力加速贮存寿命试验,试验后对典型试验样品进行了失效分析.最后,运用灰色理论模型预测了不同温度应力下的贮存寿命.实践证明,上述方法可以用于航天电磁继电器贮存寿命的研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王立忠		15	340	11.0	15.0
2	陆俭国	河北工业大学电器研究所	132	1621	21.0	31.0
3	李文华	河北工业大学电器研究所	69	428	12.0	18.0
4	孟凡斌	河北工业大学材料科学与工程学院	32	328	10.0	17.0
5	骆燕燕	河北工业大学电器研究所	36	355	9.0	17.0