单片机系统非正常复位的判断与处理

• 作者: 周兰兰 杨杰
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 测控 抗干扰 自复位
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 应用技巧与实践
• 页码范围: 85-88
• 页数: 4页
• 分类号: TP368.1
• 字数: 2407字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2009.11.020

摘要

单片机以其超小型化、高可靠性和高性价比的特点,广泛应用于各个领域.在实验室设计的符合要求的单片机测控系统置于现场后,常常会受到现场各种各样的干扰,所以对单片机测控系统的可靠性提出了更高的要求.在单片机测控系统因干扰复位或掉电后复位均属非正常复位.本文主要分析了单片机系统的非正常复位的类型,针对不同类型的非正常复位分别提出了系统自恢复运行的处理方法,并给出了相应方法的软件处理流程.本文中的方法在实际使用中取得了较好的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨杰		14	17	2.0	3.0
2	周兰兰		2	2	1.0	1.0