基于ATE的FPGA测试

• 作者: 解维坤
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: ATE FPGA 测试 配置
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 17-19,26
• 页数: 4页
• 分类号: TN307
• 字数: 1500字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2009.12.004

摘要

随着集成电路技术的飞速发展,FPGA的应用越来越广泛,其测试技术也得到了广泛重视和研究[1].文章简要介绍了FPGA的发展及其主要组成部分,提出了一种用ATE对FPGA进行测试的方法和具体测试流程.以一段Xilinx XC3042的真实配置数据为例详细描述了Intel HEX文件格式,以及将其转换成二进制配置码的方法,并介绍了FPGA的配置码格式和配置数据长度的计算方法.然后,以外设配置模式为例,通过XC3042的配置电路原理图和配置时序详细描述了FPGA的配置原理;最后给出了采用ATE(Automatic Test Equipment)-J750对FPGA的配置与测试过程,为FPGA的通用测试提供了一种切实可行的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	解维坤		10	22	2.0	4.0