SoC可测性技术研究

• 作者: 樊晓桠 车彬
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 可测性设计 扫描测试
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TP303
• 字数: 4594字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2009.06.001

摘要

超深亚微米工艺和基于可复用嵌入式IP模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战,需要研究开发新的测试方法和策略.介绍了可测性设计技术常用的几种方法,从芯核级综述了数字逻辑模块、模拟电路、内存、处理器、第三方IP核等的测试问题,并对SoC可测性设计策略进行了探讨,最后展望了SoC测试未来的发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	樊晓桠	西北工业大学航空微电子中心	170	1393	17.0	29.0
2	车彬	西北工业大学航空微电子中心	2	8	2.0	2.0