电荷载流子倍增寄存器中的倍增噪声

• 作者: 何伟基 陈钱 顾国华
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电荷载流子倍增寄存器 碰撞电离 倍增因子 倍增噪声功率谱密度
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 88-91
• 页数: 4页
• 分类号: TN15
• 字数: 2463字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-3392.2009.01.023

摘要

信号电荷在电荷载流子倍增寄存器中的强场下,吸收电场能量激发碰撞电离过程.电子碰撞电离过程激发的电子空穴对具有独立性和随机性,其激发过程产生的倍增噪声主要是散粒噪声.借助于马尔可夫链定理,得到了CCM单元的倍增因子的计算方法,建立了电子碰撞电离的数学模型.在此基础上,推导了CCM单元倍增噪声的功率谱密度,表明其与倍增因子相关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈钱	南京理工大学近程高速目标探测技术国防重点学科实验室	248	2662	25.0	37.0
2	顾国华	南京理工大学近程高速目标探测技术国防重点学科实验室	172	1825	20.0	31.0
3	何伟基	南京理工大学近程高速目标探测技术国防重点学科实验室	37	242	9.0	13.0