慢波结构色散测量中的探针引入误差分析

• 作者: 冯进军 孙小菡 廖复疆 杨帅 柏宁丰
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微扰 电磁带隙 色散测量
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 分类号: TN752
• 字数: 2027字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2009.02.004

摘要

提出了一种微波器件色散测量中探针引入误差分析方法.该方法将探针对器件微扰的各种参数分离,便于对复杂结构进行分析,可以直接带入相关参数计算.提出分解微扰引入的误差省略其中的极小值,简化了计算.在此基础上,分析了不同探针对电磁带隙波导色散测量的误差,给出了探针器件位于不同位置以及不同探针半径所引入的误差相对值.计算结果表明.探针半径变化对测量误差的影响远大于探针位置变化对测量误差的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙小菡	东南大学电子科学与工程学院光子学与光通信研究室	214	1113	17.0	23.0
2	杨帅	东南大学电子科学与工程学院光子学与光通信研究室	4	315	2.0	4.0
3	柏宁丰	东南大学电子科学与工程学院光子学与光通信研究室	15	28	3.0	5.0
4	廖复疆		28	271	10.0	16.0
5	冯进军		84	447	12.0	17.0