光纤光栅在低阻抗材料动态性能测试中的应用

• 作者: 朱萍玉 林玉池 王为
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤Bragg光栅 低阻抗材料 分离式霍布金逊压杆 动态解调
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 488-492
• 页数: 5页
• 分类号: TN253|O482.526
• 字数: 1728字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2009.03.004

摘要

研究了光纤Bragg光栅在材料性能测试方面的应用.介绍了基于分离式霍布金逊压杆(SHPB)的低阻抗材料动态性能测试的原理,探讨了光纤光栅传感器用于SHPB实验装置中进行应变测试的相关问题.推导了低阻抗弹性杆中传播的应力波与光纤光栅传感器的波长漂移量之间的关系式,构建了光纤光栅高频动态应变测试系统,对SHPB实验装置中被撞击弹性杆的表面应变进行了测试,并与现有仪器进行了对比.实验结果显示,构建的光纤光栅动态应变测试系统在10 kHz的频率范围内,具有40 dB的信噪比.研究表明,光纤光栅在低阻抗材料的动态性能测试中具有很好的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王为	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	125	1597	22.0	34.0
2	朱萍玉	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	6	80	4.0	6.0
3	林玉池	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	135	1717	21.0	34.0