纯铝在0.6mol/LNaCl溶液中腐蚀行为的SECM分析

• 作者: 冯皓 周和荣 李晓刚 董超芳 陆启凯 马坚
• 来源期刊: 航空材料学报
• 关键词: 1060纯铝 活性溶解 扫描电化学显微镜 氧化电流
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 页码范围: 8-12
• 页数: 5页
• 分类号: TG172.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5053.2009.02.002

摘要

采用扫描电化学显微镜(SECM)系统研究了1060纯铝在0.6mol/LNaCl溶液中的腐蚀行为,利用扫描电镜(sEM)观察了腐蚀产物的微观形貌,采用能谱分析了腐蚀产物的组成.结果表明,1060纯铝表面不同区域活性溶解程度不同,且试样表面的氧化电流峰分布呈条带状;腐蚀溶解主要发生在FeAlx相周围;试样表面的腐蚀产物数量较少、分布不均匀,腐蚀点主要呈圆环形.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周和荣	中国电器科学研究院工业产品环境适应性国家重点实验室	9	173	8.0	9.0
3	董超芳	北京科技大学腐蚀与防护中心	149	1336	20.0	28.0
6	马坚	中国电器科学研究院工业产品环境适应性国家重点实验室	9	44	3.0	6.0
7	陆启凯	中国电器科学研究院工业产品环境适应性国家重点实验室	4	43	4.0	4.0