X射线荧光光谱法测定铁矿石中主次成分

• 作者: 崔黎黎
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 玻璃熔片法 铁矿石 主次成分
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2405字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2009.12.005

摘要

采用玻璃熔片法制样,建立测定铁矿石中TFe、SiO_2、Al_2O_3、CaO、MgO、MnO、K_2O、TiO_2、P、S等主次成分的X射线荧光光谱分析方法.确定了仪器最佳参数,采用系列标样建立了校准曲线,以数学法校正基体效应.对稀释比、熔样时间等进行了探讨,结果表明,试样和熔剂的质量比以1:15、熔样时间以15 min为好,所得试样在熔剂中的分散度(浓度)适当,可同时适合试样中高、低含量组分的测定.采用熔融法分解试样的方法有效地消除了试样的粒度效应,精确度试验表明,待测元素的相对标准偏差在0.10%～7.14%之间,能满足铁矿石中各元素的检测要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔黎黎		3	42	3.0	3.0