电阻抗成像中高速高精度数字相敏检波器设计

• 作者: 何为 何传红 刘斌
• 来源期刊: 重庆大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 电阻抗成像 数字相敏检波器 信噪比 现场可编程门阵列
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 页码范围: 1274-1279,1290
• 页数: 7页
• 分类号: TM930
• 语种: 中文

摘要

电阻抗成像对测量系统的精度和速度都有较高要求,为此研制了基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)的数字相敏检波器(digital phase-sensitive detector,DPSD)用于电阻抗成像的数据测量.在分析DPSD原理的基础上,推导出信噪比与采样点数和采样分辨率的关系.给出了测量系统的实现方案,提出了基于直接数字频率合成(direct digitalsynthesis,DDS)技术的模数转换器(analog-to-digital converter,ADC)时钟设计方法.采用高速多通道ADC芯片,辅以低抖动ADC时钟电路,最终由FPGA实现实时DPSD算法.实验测试结果显示,测量准确度可达0.03%,系统信噪比可达85dB.琼脂模型成像实验证明其性能可以较好地满足电阻抗成像的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何为	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	242	2902	26.0	40.0
2	刘斌	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	131	2764	28.0	49.0
3	何传红	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	15	160	8.0	12.0