掠入射X射线衍射方法对α相聚辛基芴(PFO)薄膜结晶性的分析

• 作者: 万贺 张吉东 李海东 白莎莎 赖宇晴 高瑛
• 来源期刊: 分析测试学报
• 学科: 工学
• 关键词: 掠入射X射线衍射 聚芴薄膜 结晶性 α相聚辛基芴
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 333-336
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.22|O484.1
• 字数: 2680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4957.2009.03.017

摘要

采用掠入射X射线衍射方法对α相均聚辛基芴(PFO)薄膜的结晶性进行了表征,并探讨了不同仪器构型对实验结果的影响.结果表明,与常规X射线衍射方法相比,掠入射X射线衍射可以消除或减小基底的干扰并增大薄膜的衍射信号,能明显地测量出α相PFO薄膜的各衍射峰.采用较大狭缝的测试系统得到的信号较大,但是仪器的宽化因子也随之增大,通过比较发现利用Scherrer公式计算微晶尺寸时求解真实宽化因子使用公式B2-b2较好.