电晕强度对HTV硅橡胶陷阱特性的影响

• 作者: 丁立健 李成榕 梁英
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 硅橡胶 电晕强度 陷阱特性 合成绝缘子 老化 热刺激电流
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 高电压绝缘
• 页码范围: 135-140
• 页数: 6页
• 分类号: TB303|TM215
• 字数: 3470字
• 语种: 中文

摘要

高温硫化(HTV)硅橡胶因具有优异的憎水性、憎水迁移性、憎水恢复性及其它显而易几尢的优越性而被广泛用作电力系统中合成绝缘子的外绝缘材料.为此,采用热刺激电流(TSC)技术对HTV硅橡胶在不同电晕强度老化后的陷阱特性进行了系统的试验研究,同时观测了硅橡胶在相应老化阶段表面形态的变化.试验结果表明,在不同的老化阶段,硅橡胶的陷阱特性变化呈现出不同的特点.随着电晕强度的增加.陷阱电荷量总体上呈增多趋势;在电晕作用时间较短时陷阱能级随电晕强度的增加而产牛较小的变化;在电晕作用时间较长时,陷阱能级在电晕强度达到一定值时将被加深,之后随电晕强度的增加而逐渐变深.结合硅橡胶的扫描电子显微镜(SEM)结果,分析可知,电晕强度及电晕作用时间通过影响轰击硅橡胶表面的带电粒子的能量和持续时间,对其表面形态产生作用,进一步地引起硅橡胶陷阱分布特性的变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成榕	华北电力大学高电压与电磁兼容北京重点实验室	161	3340	34.0	49.0
2	丁立健	华北电力大学高电压与电磁兼容北京重点实验室	26	645	15.0	25.0
3	梁英	华北电力大学电气与电子工程学院	32	565	15.0	23.0