硫脲在10-甲基吩噻嗪修饰碳糊电极上的电催化氧化及电分析方法研究

• 作者: 王春梅 高作宁
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 化学
• 关键词: 硫脲 10-甲基吩噻嗪 碳糊修饰电极 电催化氧化 电化学动力学
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 研究报告与研究简报
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: O6157.1|O647
• 字数: 2741字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0720.2009.07.001

摘要

研究了硫脲(Thiourea,Tu)在10-甲基吩噻嗪修饰碳糊电极(MPT/CPE)上的电催化氧化行为.结果表明,Tu在裸碳糊电极(CPE)上的直接电化学氧化过程十分迟缓,MPT/CPE对Tu的电化学氧化具有良好的催化作用.用计时电流法(CA)测定了Tu在MPT/CPE上的电极过程动力学参数,测得电荷传递系数α=0.61,电催化氧化反应的速率常数k=(1.96±0.10)×104(mol/L)-1·s-1.用方渡伏安法(SWV)测得催化氧化峰电流与Tu浓度在1.0×10-6～8.0×10-3mol/L范围内呈良好的线性关系,线性回归方程为,Ips(μA)=10.836c(10-3mol/L)+5.326,R=0.9984,检出限为2.2×10-7mol/L(S/N=3).方法可用于Tu的电化学法测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高作宁	宁夏大学能源化工重点实验室化学化工学院	100	438	11.0	14.0
2	王春梅	宁夏大学能源化工重点实验室化学化工学院	5	6	2.0	2.0