简单类COG产品电显异常的一种成因分析

• 作者: 杨勇
• 来源期刊: 现代显示
• 学科: 工学
• 关键词: COG产品 显示异常 IC 测试焊盘 毛刺 干扰
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 796字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-6268.2009.07.009

摘要

通过严格的失效分析步骤,借助于切片分析手段,找到了IC的一种设计或制造缺陷.原因是IC切割线外的测试焊盘在切割不良时会有毛刺,毛刺在COG邦定过程中通过ACF的导电粒子与ITO电极发生了短路,从而导致显示异常.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨勇		1	0	0.0	0.0