一种Bipolar结构中的闩锁效应

• 作者: 周烨 李冰
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 闩锁效应 寄生晶体管 器件模型 版图设计
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2091字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2009.01.005

摘要

闩锁是集成电路结构所固有的寄生效应,这种寄生的双极晶体管一旦被外界条件触发,会在电源与地之间形成大电流通路,导致整个器件失效.文章较为详细地阐述了一种Bipolar结构中常见的闩锁效应,并和常见CMOS结构中的闩锁效应做了对比.分析了该闩锁效应的产生机理,提取了用于分析闩锁效应的等效模型,给出了产生闩锁效应的必要条件与闩锁的触发方式.通过对这些条件的分析表明,只要让Bipolar结构工作在安全区,此类闩锁效应是可以避免的.这可以通过版图设计和工艺技术来实现.文章最后给出了防止闩锁效应的关键设计技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周烨	无锡硅动力微电子股份有限公司研发中心	2	3	1.0	1.0
2	李冰	无锡硅动力微电子股份有限公司研发中心	1	2	1.0	1.0