集成参数测试仪

• 作者: 伍翔 张帅 甘卫锋
• 来源期刊: 企业技术开发（下半月）
• 学科: 工学
• 关键词: 集成运放参数 辅助运放 测试法
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 信息科学
• 页码范围: 106
• 页数: 1页
• 分类号: TP368.1
• 字数: 1457字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8937.2009.06.071

摘要

本系统采用辅助运放测试法,对运算放大器的各基本参数进行精确测量,以单片机和FPGA为控制核心,通过对继电器的控制,实现各处开关的通断,从而以较为简单的电路实现多种参数测试,文章对该系统作简要分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张帅	武汉大学电子信息学院	25	55	5.0	6.0
2	伍翔	武汉大学电子信息学院	2	0	0.0	0.0
3	甘卫锋	武汉大学电子信息学院	2	0	0.0	0.0