Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究

• 作者: 刘晓旭 吴忠华 殷景华 程伟东 闫凯
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 小角X射线散射 纳米杂化 聚酰亚胺 分形
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 同步辐射技术及应用
• 页码范围: 901-904
• 页数: 4页
• 分类号: TB383
• 字数: 2599字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2009.12.006

摘要

聚酰亚胺(PI)/无机纳米杂化材料具有良好的电绝缘性、优异的机械性能以及高耐热等特性,广泛地应用于电气电子领域.本文利用同步辐射小角X射线散射(SAXS)技术对聚酰亚胺纳米杂化薄膜(Al_2O_3/PI)进行微观结构分析,结合透射电子显微镜(TEM)测试的结果,研究了杂化薄膜中无机纳米颗粒的特性.研究结果表明,无机纳米颗粒尺寸约为4–7 nm,纳米颗粒与基体之间具有明锐的界面,薄膜体系分形维数为2.48.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷景华	哈尔滨理工大学应用科学学院	74	301	9.0	12.0
3	吴忠华	中国科学院高能物理研究所多学科中心	34	146	8.0	10.0
4	闫凯	黑龙江科技学院实训中心	11	32	4.0	5.0
5	刘晓旭	哈尔滨理工大学应用科学学院	4	30	3.0	4.0
11	程伟东	中国科学院高能物理研究所多学科中心	2	17	2.0	2.0