多因素干扰作用下微控器抗扰特性的正交试验研究

• 作者: 向怡 瞿志海 蒋全兴 蔡建国
• 来源期刊: 电工技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多因素 微控器 抗扰特性 正交试验
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容技术
• 页码范围: 20-22
• 页数: 3页
• 分类号: TM86
• 字数: 3004字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1388.2009.01.011

摘要

以正交试验的理论为基础,通过对被干扰设备进行试验测量获得大量的数据,然后用正交试验法分析快速瞬变脉冲群对微控器的干扰特性.该方法开辟了电磁兼容性研究领域的一个新途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	向怡		6	5	1.0	1.0
2	瞿志海	武汉职业技术学院机电学院	7	7	2.0	2.0
3	蔡建国	武汉职业技术学院机电学院	14	38	4.0	5.0
4	蒋全兴		1	1	1.0	1.0