一种智能型断路器寿命试验设备的研制

• 作者: 吾文明 汪家养 沈建位
• 来源期刊: 电工电气
• 学科: 工学
• 关键词: 通用逻辑控制模块 断路器 寿命试验
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 检验与测试
• 页码范围: 54-56
• 页数: 3页
• 分类号: TM561
• 字数: 1228字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-3175.2009.05.016

摘要

研制了一种智能型断路器寿命试验测试设备,该设备采用超小型控制器通用逻辑控制模块代替继电器和接触器控制,实现对高压交流断路器寿命试验的自动控制.阐述了通用逻辑控制模块控制的优点,给出了断路器试验电路图和通用逻辑控制模块程序图.该设备结构简单,可靠性高,维护工作少,抗干扰能力强.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈建位		22	122	5.0	11.0
2	汪家养		5	28	3.0	5.0
3	吾文明		7	19	3.0	4.0