IDDQ测试方法及发展

• 作者: 庹朝永
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试技术 CMOS电路 深亚微米技术 IDDQ测试
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TB9
• 字数: 3858字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-6941.2009.03.018

摘要

本文介绍了IDDQ电流测试方法的基本原理,IDDQ测试在集成电路测试系统上的实现方法.现在IDDQ电流测试成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试不能发现的制造过程所产生的故障.以及随着深亚微米技术出现,IDDQ测试受到严峻的挑战.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庹朝永		30	129	6.0	11.0