深度黑盒型设备贮存寿命评估方法研究

• 作者: 张子华 程德斌
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 黑盒 设备 贮存 寿命 评估
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 193-197
• 页数: 5页
• 分类号: TN3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.043

摘要

本文提出一种基于深度黑盒型设备内部典型元器件的寿命特征和性能退化规律,评估其贮存寿命的方法.即将黑盒型设备分解成元器件,通过对随设备长期贮存的典型元器件进行寿命特征诊断,针对寿命特征良好的元器件再开展加速退化试验,掌握其关键性能参数的退化规律,评估深度黑盒型设备的贮存寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程德斌		7	19	2.0	4.0
2	张子华		1	0	0.0	0.0