利用光纤空间M-Z干涉仪测量压电陶瓷相移系数

• 作者: 吴重庆 张建亮 盛新志
• 来源期刊: 压电与声光
• 学科: 工学
• 关键词: 压电陶瓷相位调制器 相移系数 光纤M-Z干涉仪
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 声光与光纤技术
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TN911.74
• 字数: 1833字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2474.2009.01.016

摘要

提出了一种利用光纤空间M-Z干涉仪测量压电陶瓷(PZT)相位调制器相移系数的新方法.光纤空间M-Z干涉仪的空间干涉场图与PZT的相移呈单值函数,可有效克服出射光强与相移呈多值函数的问题.设计了测试系统并应用该系统实际测量了一种PZT的相移系数,对结果进行了数字拟合,线性性好.与已有的理论计算和根据光强测量的方法比较,这种方法具有更高的准确性和重复性.PZT相位调制器是光纤干涉系统中的重要组成部分,这种测定相移系数的新方法,可广泛用于各种光纤干涉系统中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴重庆		4	13	2.0	3.0
2	张建亮		1	3	1.0	1.0
3	盛新志		1	3	1.0	1.0