继电器触点接触电阻偏大的失效机理研究

• 作者: 刘子莲 施明哲 李继伟
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 密封继电器 触点 接触电阻 失效
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 页码范围: 117-121
• 页数: 5页
• 分类号: TN3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.025

摘要

本文用试验的方法研究了继电器触点接触电阻增大的失效机理.试验中分别用扫描电镜和X射线能谱仪观察失效样和正常样的触点形貌并分析触点表面的元素成份,再用红外光谱仪验证了触点污染物的来源.根据试验的分析结果,讨论了触点失效的机理,并提出了改进的建议和可行的措施.本文对继电器失效的理论和模拟研究具有较大的参考价值,同时为改进触点材料和工艺制造过程提供试验依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李继伟		1	7	1.0	1.0
2	施明哲		1	7	1.0	1.0
3	刘子莲		1	7	1.0	1.0