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摘要:
元器件、模块和接收通道的相位特性(相.频特性、相位温度特性等)是射频系统设计中需要考虑的一个重要指标;本文提出了一种基于带通采样定理,使用数据采集系统和数字信号处理方法的高精度相位特性测量系统,描述了该系统的设计方案和采用的相位检测方法,通过实际系统测量对系统的性能进行了验证.该系统在宽温度范围内可以测量工作频率在500MHz以下元器件、模块以及输出信号频率低于500MHz的接收通道的相位特性,亦可用于单频信号的高精度相位测量.实际测试结果表明测量分辨力可达到0.025度(RMS).
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文献信息
篇名 高精度相位特性测量系统设计与实现
来源期刊 电子测量与仪器学报 学科 工学
关键词 高精度 相位特性 测量
年,卷(期) 2009,(z1) 所属期刊栏目 自动化仪表设计与应用
研究方向 页码范围 192-195
页数 4页 分类号 TM933.3
字数 1992字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 丁赤飚 中国科学院电子学研究所微波成像技术国防重点实验室 80 966 16.0 26.0
2 梁兴东 中国科学院电子学研究所微波成像技术国防重点实验室 60 372 10.0 14.0
3 周良将 中国科学院电子学研究所微波成像技术国防重点实验室 15 71 6.0 8.0
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电子测量与仪器学报
月刊
1000-7105
11-2488/TN
大16开
北京市东城区北河沿大街79号
80-403
1987
chi
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