Z-扫描技术的灵敏度分析

• 作者: 杜艳秋 王秀琴 申作春
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: 非线性光学 Z-扫描 高斯光束 横向效应
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 激光器与激光光学
• 页码范围: 303-306
• 页数: 4页
• 分类号: TN2
• 字数: 3377字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-1582.2009.02.020

摘要

单光束激光乙扫描技术是利用光束的横向特性来研究材料的光学非线性的,其灵敏度的提高有助于测量微弱折射率变化.从入射光束、调制方式、光束检测等方面论述了Z-扫描技术的灵敏度.顶环光束入射相对于标准Z-扫描技术的高斯光束入射其灵敏度可提高2.5倍,但要求光源的输出能量达到一定值,仅适用于测定较小的非线性相移;在光路中插入调制元件后放大因子可达到780,但调节光路难以调节焦移效应.利用CCD作为探测器的TPDZ-扫描技术能够测量小于λ/15000的非线性相位畸变,OCD能够充分获得光束的横向信息,有望成为另一种测量光学非线性的常用方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王秀琴	黑龙江科技学院电气与信息工程学院	19	70	5.0	7.0
2	申作春	哈尔滨工业大学航天学院	18	125	6.0	11.0
3	杜艳秋	黑龙江科技学院电气与信息工程学院	8	24	3.0	4.0