基于SIMON仿真软件的单电子存储器分析

• 作者: 任国燕 黄勤易
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 物理学
• 关键词: SIMON 单电子环形存储器 量子点 岛 随机背景电荷
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 纳米器件与技术
• 页码范围: 587-590
• 页数: 4页
• 分类号: O411.3
• 字数: 2749字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2009.10.002

摘要

介绍了目前国际上比较流行的单电子器件仿真软件SIMON的工作原理,并且以单电子环形存储器单元电路为例,利用SIMON软件对其功能和性能进行了仿真分析,同时,还仿真了温度和随机背景电荷对单电子环形存储器单元电路的影响.研究表明,单电子环形存储器单元电路利用量子点环状电路结构形式,由外接输入电压控制各岛上的电荷,能够得到存储器的"0"和"1"状态.并且该电路对温度和背景电荷极为敏感,在温度为0 K和零背景电荷条件下电路能够正常工作,但是当温度和背景电荷发生微小变化,电路的输出状态将会受到破坏.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄勤易	重庆科技学院电子信息工程学院	7	25	3.0	4.0