铁基非晶薄带的磁感应效应

• 作者: 刘宇安 朱正吼 蒋达国
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 物理学
• 关键词: 非晶薄带 磁感应效应 薄带长度 线圈匝数 退火
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 745-747,751
• 页数: 4页
• 分类号: O484.4
• 字数: 2126字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2009.05.012

摘要

研究了Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9非晶薄带磁感应效应的影响因数.结果表明,磁感应效应变化幅度随着磁场强度的增大而增大;当测试频率为30kHz,薄带长度为3cm,线圈匝数为300匝时,淬火态非晶薄带的磁感应效应变化幅度最大;与淬火态非晶薄带相比,退火可以提高磁感应效应变化幅度,且经300℃×1h退火后的磁感应效应变化幅度最大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋达国	井冈山大学数理学院	52	66	5.0	6.0
2	朱正吼	南昌大学材料科学与工程学院	114	746	14.0	17.0
3	刘宇安	井冈山大学数理学院	11	12	2.0	3.0