标准测试数据格式（STDF）文件的研究

• 作者: 袁薇
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 测试 STDF FAR 良率
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 70-73
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.13

摘要

介绍了半导体测试中的良率数据记录格式。阐述了标准测试数据格式（STDF）的优点以及结构。给出了将STDF用于半导体测试过程中，以减少花费、增加效率、缩短良率提升时间测试数据标准化的新思路。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁薇	西安邮电学院电信系	12	84	5.0	9.0