测量设备偏离校准状态后的有效性评价及追溯

• 作者: 吴洪生
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测量设备 校准 有效性评价 追溯
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 计量管理
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: TB9
• 字数: 2760字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2009.12.022

摘要

测量设备经常会发生校准状态的偏离,本文探讨了测量设备偏离校准状态后的有效性评价及追溯的必要性,评价判断的依据和采取的措施.