Altera SRAM型现场可编程门阵列总剂量辐射效应

• 作者: 于跃 任迪远 余学峰 李鹏伟 王义元 高博
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: SRAM型现场可编程门阵列 ~(60)Coγ源 总剂量效应 辐射
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 1128-1132
• 页数: 5页
• 分类号: V520|TN47
• 语种: 中文

摘要

通过比较不同模块的输出波形、不同源程序的功耗电流以及输出端口的高、低电平随总剂量的变化关系,研究了Altera SRAM型现场可编程门阵列(FPGA)器件在~(60)Co γ源辐照下的总剂量辐射效应.实验结果表明:器件的功能和功耗电流随总剂量的变化不同;不同模块随总剂量的变化关系相似,不同源程序的功耗电流随总剂量的变化趋势一致;总剂量辐照实验时功耗电流可作为判断器件失效的1个敏感参数.