偏振相关损耗对偏振复用系统信道正交性的影响

• 作者: 万木森 刘铁根 姚晓天 王铁城
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤光学 偏振相关损耗 光强衰减 偏振复用
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 光通信及其元器件
• 页码范围: 879-883
• 页数: 5页
• 分类号: TN929.11
• 字数: 2963字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL20093604.0879

摘要

在偏振复用系统中,利用两个正交的偏振光作为不同的信道在同一根光纤传输,从而达到使传输信息量加倍的目的.在信号接收端,需要将这两个信道重新分离,分离时除了偏振模式色散(PMD)之外,还会受到偏振相关损耗(PDL)的影响.根据PDL的原理,推导了偏振复用系统中两正交信道夹角与PDL的数值关系,计算了PDL大小对系统的影响.并依据理论模型构建了实验系统,对光纤一个主轴光强进行衰减,描绘出信道间串扰和PDL之间的实验曲线,验证了理论分析的有效性.实验表明,PDL调至最小的时候.若要求串扰控制在-10 dB以内,差分群时延(DGD)应该压制在10 ps以内;当DGD增大到140 ps以后,被标记和没被标记的信道信号强度达到了1:1,系统则完全无法工作,在接收端无法分离信道.本项研究对于保证偏振复用系统的稳定性具有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘铁根	天津大学精仪学院偏振研究中心	201	1457	19.0	30.0
2	姚晓天	天津大学精仪学院偏振研究中心	18	96	6.0	9.0
3	王铁城	天津大学精仪学院偏振研究中心	3	15	1.0	3.0
5	万木森	天津大学精仪学院偏振研究中心	3	25	3.0	3.0