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摘要:
研究了用于模拟高功率微波条件下介质表面击穿的静电PIC-MCC模型,并通过自行编写的数值模拟程序模拟了真空及不同气压条件下介质表面击穿过程中的次级电子倍增和气体电离等过程.模拟结果发现,在真空及低气压条件下,电子的主要来源是次级电子倍增,电子数量以两倍于入射场的频率振荡;在高气压情况下,电子的主要来源是气体电离.
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文献信息
篇名 介质表面高功率微波击穿的数值模拟
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 介质表面击穿 高功率微波 数值模拟 次级电子倍增
年,卷(期) 2009,(5) 所属期刊栏目 流体、等离子体和放电
研究方向 页码范围 3268-3273
页数 6页 分类号 O53
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2009.05.062
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王建国 123 908 14.0 23.0
3 蔡利兵 15 91 6.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
介质表面击穿
高功率微波
数值模拟
次级电子倍增
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
总被引数(次)
174683
相关基金
国家高技术研究发展计划(863计划)
英文译名:The National High Technology Research and Development Program of China
官方网址:http://www.863.org.cn
项目类型:重点项目
学科类型:信息技术
论文1v1指导