篇名 | Study on the degradation of NMOSFETs with ultra-thin gate oxide under channel hot electron stress at high temperature | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | threshold voltage interface traps stress induced leakage current | ||
年,卷(期) | 2009,(12) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 5479-5484 | |
页数 | 6页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI |