网络化边缘扫描集成电路测试系统研制

• 作者: 刘炜 张琳 陈希
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 边缘扫描测试 以太网 集成电路测试系统
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 22-24,27
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 3140字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2009.01.008

摘要

简单论述了边缘扫描测试技术,详述了研制的网络化边缘扫描测试系统的构建方法.针对测试系统的实际应用进行了说明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘炜		7	14	2.0	3.0
2	张琳		6	14	2.0	3.0
3	陈希		1	2	1.0	1.0