多值故障字典的测点选择与序测试设计

• 作者: 杨成林 田书林 龙兵
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多值故障字典 测点选择 序贯测试问题 可测性设计
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 2271-2275
• 页数: 5页
• 分类号: TN710
• 字数: 4977字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2009.09.052

摘要

序贯测试问题是目前的一个研究热点.由于时间复杂度太高,传统的序贯测试算法对于测点数大于12的系统无能为力.为此,将序贯测试问题拆分为测点选择与序测试设计两个问题.测点选择问题用A*算法解决:运用M进制编码规则,首先给出了启发函数的计算方法,然后给出了能够得到所有最小测点集的改进的A*算法.序测试设计问题用AO*算法解决:对二值哈夫曼编码规则进行推广得到了多值编码规则,根据此规则给出了AO*算法启发函数的计算方法.提出的方法更符合可测性设计的设计流程,试验和复杂度分析表明该方法能显著降低传统方法的时间复杂度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田书林	电子科技大学自动化工程学院	136	1001	16.0	25.0
2	龙兵	电子科技大学自动化工程学院	69	1038	19.0	28.0
3	杨成林	电子科技大学自动化工程学院	9	55	4.0	7.0