基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现

• 作者: 谢永乐 陆鹏
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫捕 IEEE1149.1标准 集成电路测试
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 13-15
• 页数: 3页
• 分类号: TN43
• 字数: 2301字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2009.10.007

摘要

介绍了边界扫描的技术原理,及其在集成电路测试巾的具体应用,并给出了一种基于边界扫描技术的扳级集成电路测试系统的方案及实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢永乐	电子科技大学自动化工程学院	73	549	12.0	20.0
2	陆鹏	电子科技大学自动化工程学院	1	11	1.0	1.0