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摘要:
采用PVC环的粉末样品压片制样,用RIGAKU ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪对土壤样品中的C、N、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、S、Cl、K2O、CaO、Ti、V、Cr、Mn、TFe2O3、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Ba和Br等30个组分进行测定.重点研究了C、N、Cl、S等元素的测定条件、痕量元素的背景选择和谱线重叠校正问题.使用经验系数法和康普顿散射线、背景散射线作内标校正基体效应.经国家一级标准物质校验,方法的检出限、精密度和准确度,满足多目标地球化学调查样品的分析要求.
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关键词云
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文献信息
篇名 X射线荧光光谱法测定土壤样品中C和N等30个主次痕量元素
来源期刊 化学工程师 学科 化学
关键词 土壤样晶 X射线荧光光谱法
年,卷(期) 2009,(7) 所属期刊栏目 分析测试
研究方向 页码范围 44-48
页数 5页 分类号 O657.3
字数 3472字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-1124.2009.07.015
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1 葛江洪 9 17 3.0 4.0
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土壤样晶
X射线荧光光谱法
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化学工程师
月刊
1002-1124
23-1171/TQ
大16开
哈尔滨市香坊区衡山路18号
14-165
1988
chi
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