一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法

• 作者: 廖栽宜 张云霄 潘教青 王圩 赵玲娟 边静
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 电吸收调制器 插入损耗 吸收曲线 光生电流
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 唯象论的经典领域
• 页码范围: 3135-3139
• 页数: 5页
• 分类号: O37
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2009.05.041

摘要

提出一种新颖的方法用于测量电吸收调制器(electroabsorption modulator,EAM)各种因素造成的插入损耗.此方法仅需要测量波长相关的光电流(Iph-λ)和光透过功率(P-λ)的数据,通过最小二乘法拟合出结果.理论分析表明此方法较精确,实验表明测试结果与理论拟合结果自洽得很好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘教青	中国科学院半导体研究所中国科学院半导体材料重点实验室	8	44	3.0	6.0
2	边静	中国科学院半导体研究所中国科学院半导体材料重点实验室	9	10	2.0	3.0
3	廖栽宜	中国科学院半导体研究所中国科学院半导体材料重点实验室	2	3	1.0	1.0
4	赵玲娟	中国科学院半导体研究所中国科学院半导体材料重点实验室	27	84	5.0	7.0
5	张云霄	中国科学院半导体研究所中国科学院半导体材料重点实验室	1	0	0.0	0.0