破片穿孔毁伤对圆抛物面天线电性能影响的仿真计算

• 作者: 刘彦 张庆明 袁俊明
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 天线毁伤 破片 物理光学法 矩量法 远场辐射方向图
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 弹药技术
• 页码范围: 129-132
• 页数: 4页
• 分类号: O383.3|TN95
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2009.03.038

摘要

研究圆抛物面天线在大量破片穿孔毁伤条件下的远场辐射特性规律,利用高频电磁场分析模块FEKO软件,基于表面电流积分的物理光学法和矩量法混合使用,对圆抛物面天线的远场辐射特性进行了建模与分析,比较了反射面完好时和不同密度破片对反射面穿孔毁伤后的电性能变化.着重研究了天线反射面在不同密度的破片毁伤后远场辐射特性随破片密度的变化规律,结果表明:反射面天线增益在破片穿孔密度一定大小范围内不变,但随穿孔密度的增大而逐渐减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张庆明	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	140	1199	18.0	27.0
2	刘彦	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	25	114	7.0	9.0
3	袁俊明	北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室	4	28	4.0	4.0