数字电路ATPGS实现的关键技术研究

• 作者: 卢振达 陈建辉
• 来源期刊: 仪表技术
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 故障检测 D算法 ATPG
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 页码范围: 21-22,25
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 字数: 2017字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2394.2009.10.008

摘要

数字电路测试的关键在于算出测试向量.文章对数字电路的功能测试和测试生成进行研究,介绍了D算法的基本概念及在数字电路故障检测中的应用.讨论了数字电路自动测试生成系统实现的关键技术,主要包括故障的模型、仿真和压缩;可测试性度量;测试向量生成算法(ATPG)以及测试向量压缩优化,并介绍了数字系统测试生成平台的整体框架.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈建辉	军械工程学院导弹工程系	59	347	9.0	15.0
2	卢振达	军械工程学院导弹工程系	5	19	2.0	4.0