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摘要:
随着FPGA复杂度的提高,验证过程成为FPGA设计周期中的关键部分.文章先简介了最新的虚拟JTAG测试方法,然后对用户控制逻辑和Tcl的应用等方面进行了分析,并结合具体实例详细说明了虚拟JTAG的使用方式.实验结果表明运用此种测试方法,可以灵活进行系统级片内调试,节约测试成本,加快设计验证进程.
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文献信息
篇名 基于虚拟JTAG测试方法的研究
来源期刊 仪表技术 学科 工学
关键词 虚拟JTAG FPGA Tcl
年,卷(期) 2009,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-3
页数 3页 分类号 TP39
字数 2294字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-2394.2009.04.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈章进 上海大学微电子研究中心 52 232 8.0 13.0
2 王浩 上海大学微电子研究中心 11 25 3.0 4.0
3 金晨 上海大学微电子研究中心 4 12 2.0 3.0
传播情况
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引文网络
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2015(1)
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研究主题发展历程
节点文献
虚拟JTAG
FPGA
Tcl
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
仪表技术
月刊
1006-2394
31-1266/TH
大16开
上海市
4-351
1972
chi
出版文献量(篇)
4081
总下载数(次)
14
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
论文1v1指导