Cu掺杂α-Fe2O3纳米粉体的掺杂量分析与X射线衍射研究

• 作者: 刘海峰 孙红娟 彭同江 马国华
• 来源期刊: 分析测试学报
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线衍射 α-Fe2O3 掺杂 晶胞参数 晶粒度
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 7-11
• 页数: 5页
• 分类号: O722.4|O766.3
• 字数: 3288字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4957.2009.01.002

摘要

采用分析纯FeCl3·6H2O和NH3·H2O为主要原料,控制不同n(Cu2+)/n(Fe3+),利用均匀共沉淀法制备了Cu掺杂的α-Fe2O3纳米粉体.通过原子吸收光谱(AAS)和X射线衍射(XRD)分析了样品中Cu2+的掺杂量,并研究了掺杂对α-Fe2O3晶胞参数、晶粒度等的影响.结果表明,Cu掺杂α-Fe2O3仍为刚玉型结构,但晶胞参数a、b、c表现出增大趋势;Cu掺杂使α-Fe2O3晶体结构产生替位杂质缺陷,增大了α-Fe2O3的晶核生长活化能,使其晶粒度减小;随着Cu掺杂量的增大,α-Fe2O3的晶核生长活化能逐渐增大,晶粒度逐渐减小.该研究为α-Fe2O3半导体材料的性能及应用研究提供了指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘海峰	西南科技大学分析测试中心	32	224	8.0	14.0
2	彭同江	西南科技大学分析测试中心	252	2575	22.0	36.0
3	孙红娟	西南科技大学分析测试中心	175	1799	18.0	33.0
4	马国华	西南科技大学分析测试中心	36	277	9.0	15.0